样本生成方法以及相关设备

本申请公开了一种样本生成方法以及相关设备，可以获取针对目标元件的正常图像、参考噪声图像和针对异常图像的目标异常外观特征；确定预设异常类型的目标掩码图像；对目标掩码图像进行特征编码处理，得到目标异常位置特征；将目标异常外观特征和目标异常位置特征进行融合，得到目标特征信息；对正常图像进行图像加噪处理，得到加噪后正常图像；基于目标特征信息，对参考噪声图像进行去噪处理，得到去噪后参考图像；将加噪后正常图像和去噪后参考图像进行融合，以生成异常样本图像。本申请可以提高生成的异常样本图像的真实性，且生成的异常样本图像与目标掩码图像能够较好地对齐，有利于提高异常定位的精度，从而便于辅助下游的缺陷检测模型。
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