博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片及其制备方法

本发明属于材料测试技术领域，具体为一种博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片及其制备方法。本发明运用现代成熟的镀膜技术在不同基质材料表面镀制厚度为100-300nm纳米级银、铜粒子薄膜，得到所需金属薄膜试片。本发明可大幅度减少金属原材料的用量，并简化操作，降低成本；可避免块状金属试片所带来的实验数据重复性差的不足，有利于数据化分析腐蚀前后试片的差异，避免传统的Oddy Test法所采用的肉眼观察而带来的人为误差。并可大大减少试验周期，便于大规模推广和应用。200710045193.2

复旦大学