一种像素位移量确认方法、装置、电子设备及存储介质

本申请涉及一种像素位移量确认方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：通过用第一卷积核集合对第一帧图像和第二帧图像的像素进行像素特征提取得到第一特征层集合和第二特征层集合；用第二卷积核集合对第一特征层集合和第二特征层集合进行像素特征提取得到第三特征层集合和第四特征层集合；将第一特征层集合和第三特征层集合聚合处理得到第一聚合特征，将第二特征层集合和第四特征层集合聚合处理得到第二聚合特征；对第一聚合特征和第二聚合特征进行解码处理得到第一帧图像中像素的位移量，如此，对相邻的两帧图像进行多次的像素特征提取，尽可能的提取图像中像素特征，在一定程度上提高了像素位移量的估计精度。
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
李嘉茂 | 王贤舜 | 朱冬晨 | 张晓林