本发明涉及绝缘聚合物材料电学性能测试技术领域,公开一种绝缘聚合物载流子迁移率测试装置,该装置包括第一箱体、第二箱体、样品支架、X射线源、电压生成组件和电流检测组件;第二箱体设置于第一箱体内部,第二箱体内设置有分隔板,第二箱体内通过分隔板形成第一空间和第二空间;样品支架用于固定样品,样品支架设置于第一空间;X射线源设置于第二空间,用于产生并发射X射线照射样品,以激励样品内部产生载流子;电压生成组件与样品线连接,以向样品的两端施加三角波电压,使得样品内部产生的载流子移动;电流检测组件与样品连接,以采集样品因载流子移动而产生的电流信号。本发明可以准确的测量低迁移率绝缘聚合物材料的迁移率数值。
上海交通大学
赵谡 | 尹毅 | 郑喆 | 钟璐瑶 | 赵孝磊 | 王亚林 | 范路 | 吴建东
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