型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质

本申请涉及一种型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质，本申请的型材缺陷检测方法包括：获取具有缺陷的型材微观组织图；根据所述具有缺陷的型材微观组织图，分析得到缺陷检测结果；根据所述缺陷检测结果，确定项目检测顺序；根据所述项目检测顺序，进行所述型材的缺陷成因判断流程。故本申请能够改善型材缺陷检测方法，改良型材制造工艺，从而提高了型材质量。
上海交通大学 | 昆山晶微新材料研究院有限公司
姜海涛 | 邢辉 | 张佼 | 陆树生