一种荧光与长余辉联合检测的免疫层析方法及系统

本发明公开了一种荧光与长余辉联合检测的免疫层析方法及系统，属于免疫分析的技术领域。激发光源照射免疫层析试纸条，测定荧光信号强度，当检测线处最大荧光强度值小于免疫分析仪器的阈值时，将荧光发光强度与预存的待测目标物浓度‑荧光发光强度标准曲线拟合，得到待测目标物浓度；大于或等于阈值时，关闭光源并收集长余辉信号强度，与预存的待测目标物浓度‑长余辉发光强度标准曲线拟合，得到待测目标物浓度。本发明检测方法最大程度地拓宽了检测区间，有效增大荧光免疫层析的应用范围。
复旦大学 | 上海泰辉生物科技有限公司
李富友 | 刘苗 | 徐明 | 程一航 | 刘倩