本发明公开了一种磁通门传感器芯片,涉及MEMS集成微制造领域,包括高阻硅衬底、激励线圈、检测线圈、磁芯、电极和二氧化硅薄膜;其中激励线圈和检测线圈均为微机电三维螺线管线圈,激励线圈和检测线圈的底层线圈位于高阻硅衬底表面的硅微槽阵列内,底层线圈上表面与硅衬底表面平齐,底层线圈通过二氧化硅薄膜与硅衬底和磁芯绝缘;底层线圈、磁芯与顶层线圈之间均通过二氧化硅薄膜绝缘。本发明采用二氧化硅薄膜进行绝缘包覆提高集成化磁通门传感器芯片的机械强度,且实现与微电子工艺的完全兼容,可实现集成化磁通门传感器芯片与CMOS接口电路的兼容同步集成制造。
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